seishin粉體、微顆粒壓縮試驗(yàn)裝置顯微硬度計(jì)MHT-1介紹

發(fā)布日期：2024-12-25      瀏覽次數(shù)：695

seishin粉體、微顆粒壓縮試驗(yàn)裝置顯微硬度計(jì)MHT-1介紹

顯微硬度計(jì)MHT-1是一種自動(dòng)壓縮測(cè)試裝置，通過(guò)改變測(cè)量臺(tái)來(lái)針對(duì)50至400μm的細(xì)小顆粒。該裝置通過(guò)測(cè)量用壓頭施加載荷壓碎顆粒時(shí)的峰值載荷和粒徑來(lái)計(jì)算壓碎強(qiáng)度。從壓縮到失效的過(guò)程用圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線記錄。通過(guò)從測(cè)量結(jié)果中選擇任意顆粒，您可以通過(guò)載荷位移曲線和連續(xù)圖像來(lái)檢查斷裂過(guò)程。



 

測(cè)量流程



利用我們的技術(shù)，我們對(duì)每個(gè)顆粒進(jìn)行分散和采樣。 測(cè)量時(shí)，只需加載樣品，壓縮測(cè)試和清潔就會(huì)自動(dòng)重復(fù)。

圖像分析



使用圖像分析，重疊的顆粒和聚集體被排除在測(cè)量之外，并且通過(guò)自動(dòng)識(shí)別每個(gè)顆粒是單個(gè)顆粒來(lái)執(zhí)行壓縮測(cè)試。

 

規(guī)格

規(guī)格清單	MHT-1	MHT-1W（高分辨率）
測(cè)量方法	恒負(fù)載法
測(cè)量項(xiàng)目	高度粒徑、峰值載荷、位移、壓碎強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、變形強(qiáng)度
目標(biāo)粒徑	50 至 400μm （手動(dòng)測(cè)量為 1mm） * 需要更換載物臺(tái)	40～120μm
下降速度	1.0~10μm/秒選擇	0.01~10μm/秒選擇
測(cè)量的顆粒數(shù)	每個(gè)樣品最多可容納 500 粒
稱(chēng)重傳感器 試驗(yàn)力	1N（最小顯示0.01mN） 5N、10N、20N也可更改 （可選）	1N（最小顯示0.01mN） 5N可改 （可選）
相機(jī)	CMOS USB 攝像頭從 “480 x 270”130,000 像素、“640 x 360”230,000 像素、“960 x 540”520,000 像素和 “1920 x 1080”2,070,000 像素中選擇。
機(jī)身尺寸	W450×D460×H400 mm *包括突出部分
體重	約25公斤	約26公斤
公用事業(yè)	AV100V 50/60Hz 2A
其他的	壓頭：直徑0.45mm直頭（表面處理） LED燈、防塵罩、校準(zhǔn)砝碼