半導體材料品質(zhì)檢測設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹

發(fā)布日期：2022-04-24      瀏覽次數(shù)：1527

半導體材料品質(zhì)檢測設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹

 

是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。

　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。


　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3


　　4.　二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度鹵素強光燈185FI手機屏幕檢查燈

 

高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。

標準構(gòu)成如下。

照度：照射距離　310mm、照射直徑徑　55mmφ時照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流點燈　17V/185W　鹵素燈

照度調(diào)整：連續(xù)可調(diào)至照度的　20%

冷卻方式：強制空冷

使用溫度范囲：0～40℃

電源電圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

電源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg